电子部件的小型化及其集成密度的增加大大增加了热流,从而可能导致过热。但是,当常规解决方案(例如红外热成像)不能低于微米(比纳米大1000倍)时,如何测量这些纳米事件呢?
一个研究团队提议将两个CNRS实验室(配位化学实验室和系统分析与体系结构实验室)的科学家召集在一起,通过使用称为自旋交叉(SCO)分子的一系列化学化合物的双稳态特性来实现这一目标。它们存在两种具有不同物理特性的电子状态,并且在吸收或失去能量时可以从一种转换为另一种中国化工网okmart.com。例如,其中一些根据温度改变颜色。
一旦以薄膜形式沉积在电子元件上,SCO分子的光学特性就会随温度而变化,从而使该化学温度计能够建立微电子电路表面的纳米级热图。但是,这些SCO分子膜的主要功能实际上是其独特的稳定性:即使在环境空气和高温(高达230°C)下进行了超过一千万次的热循环之后,分子的特性仍保持不变。
这项创新*克服了SCO分子的主要障碍,即易疲劳性,或在从一种电子状态到另一种电子状态多次转换后,其特性经常被改变的事实。它很快将用于微电子行业,以探测局部热过程,从而改善未来器件的设计。